Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System фирмы «Bede D1 System»
Рентгенодифракционные методы
На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:
- дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
- трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
- рентгеновская топография для получения изображения дефектов структуры;
- рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
- рентгеновская дифракция в низком разрешении (количественный и качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок)