Все аналитическое оборудование центра ежегодно калибруется и поверяется органом Государственной метрологической службы и имеет свидетельства о калибровке или поверке.

No
п/п
Наименование единицы оборудования

Номер сертификата калибровки средств
измерений/свидетельство о поверке
2016-2017 г.г.

 1   Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр VersaProbeII  898 (сертификат калибровки)
 2  Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр BedeD1  894 (сертификат калибровки)
 3 Растровый электронный микроскоп с холодноэмиссионной полевой электронной пушкой иприставкой для энергодисперсионного микроанализа JED-2300F  904 (сертификат калибровки)
 4 Просвечивающий электронный микроскоп  895 (сертификат калибровки)
 5 Растровый электронный микроскоп с приставкой для катодолюминесценции

 883 (сертификат калибровки)
6

Установка изучения структуры поверхности (профилометр)

Мера высоты ступени SNS-440 A



 899 (сертификат калибровки)

 

Исследования в центре проводятся по разрабатываемым в ЦКП методикам выполнения исследований, которые аттестуются органом Государственной метрологической службы или университетом.

Перечень методик, используемых ЦКП

1. Методика послойного анализа поверхностных слоев кремния, легированных бором методом масс-спектрометрии вторичных ионов.

2. Методика выполнения измерений отклонений от плоскостности пластин от 0,1 до 0,5 интерференционной полосы.

3. Методика выполнения измерения показателя преломления в видимой области спектра гониометрическим методом..

4. Методика послойного анализа поверхностных слоев кремния, легированных фосфором методом масс-спектрометрии вторичных ионов.

5. Методика послойного анализа поверхностных слоев арсенида галлия, легированного хромом методом масс-спектрометрии вторичных ионов.

6. Методика послойного анализа поверхностных слоев арсенида галлия, легированного кремнием методом масс-спектрометрии вторичных ионов.

7. Методика выполнения измерений: Элементы электрооптические. Методика выполнения измерений коэффициента эллиптичности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через оптический элемент.

8. Методика выполнения измерений: Элементы электрооптические. Методика выполнения измерений статического полуволнового напряжения.

9. Методика выполнения измерений: Материалы оптические. Методика выполнения измерений показателя ослабления.

10. Методика выполнения измерений: Элементы электрооптические. Методика выполнения измерений коэффициента контрастности поляризации пучка лазерного излучения, прошедшего через оптический.

11. Методика выполнения измерений молярных долей компонентов углерода с SP2 и SP3 -типом гибридизации.Метод количественного разделения SP2 и SP3 связанных атомов углерода в углеродных материалах со смешанным типом связей.

12. Методика определения химического состава катализатора в нанопористых каталитических мембранных материалах методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

13. Методика определения линейных размеров объектов методом растровой электронной микроскопии.

14. Методика приготовления образцов методом скола при низких температурах.

15. Методика определения элементного состава с помощью функции цифрового картирования элементов.

16. Методика определения адсорбции примесей в нанопористых каталитических мембранных материалах.

17. Методика измерения удельного электросопротивления нанокомпозитных покрытий бесконтактным СВЧ методом.

18. Методика измерения электропроводности образцов.

19. Методика анализа структур термоэлектрических материалов по уширению дифракционных линий.

20. Методика контроля однородности состава термоэлектрических материалов по параметру решетки с помощью рентгеновского дифрактометра.

21. Методика выполнения измерений локального химического состава методом электронной оже-спектроскопии.

22. Методика оценки микронеоднородности состава по расщеплению Ka дублета дифракционных линий.

23. Методика выполнения измерения химического состава оксидных наноразмерных структур.

24. Методика приготовления образцов ZrO2, легированных Y2O3 для исследования методом просвечивающей электронной микроскопии.

25. Методика выполнения измерений теплопроводности термоэлектрических материалов.

26. Методика выполнения измерений методом рентгеновской дифрактометрии. Фазовый анализ порошковых поликристаллических наноматериалов.

27. Методика выполнения измерений методом рентгеновской дифрактометрии. Определение толщины и концентрации Ge в гетероэпитаксиальной системе Si1-xGex/Si.

28. Методика изготовления микроманипуляторов на основе материалов с ЭПФ различных конфигураций.

29. Методика выполнения измерений линейных размеров элементов структуры наноматериалов и определения фазового состава.

30. Методика калибровки рентгеновского фотоэлектронного спектрометра .

31. Методика испытаний на одноосное сжатие металлических материалов с применением испытательного комплекса для моделирования

металлургических процессов термомеханической обработки металлов GLEEBLE 3800.

32. Методика выполнения измерений линейных размеров элементов структуры термоэлектрических материалов на просвечивающем электронном микроскопе

33. Методика оценки технологичности металломатричных композиционных материалов.

34. Методика определения фазового состава образца в локальных областях по дифракционной картине на просвечивающем электронном микроскопе.

35. Методика (метод) измерений. Оптические материалы. Методика измерений аномального двулучепреломления (N1-N2) в оптических материалах поляризационно-оптическим методом.

36. Методика выполнения измерений. Оптические материалы. Методика выполнения измерений рассеяния света в оптических материалах.

Реквизиты центра

тел./факс: (495)638-45-46

e-mail: olga.trpva@rambler.ru

адрес: 119049, Москва, Ленинский пр-кт., д.4, комн. Б-08 - Б-014


Работы по развитию ЦКП осуществляются при финансовой поддержке государства в лице Минобрнауки России.

Уникальный идентификатор проекта RFMEFI59414X0007.


Доступ к проведению исследований на оборудовании ЦКП осуществляется на основе договора с одновременным заполнением заявки-заказа:

Типовой договор на оказание услуг

Заявка-заказ на проведение исследований