Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System фирмы «Bede D1 System»

Изображение установки

Рентгенодифракционные методы

На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:

  • дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
  • трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
  • рентгеновская топография для получения изображения дефектов структуры;
  • рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
  • рентгеновская дифракция в низком разрешении (количественный и качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок)

Реквизиты центра

тел./факс: (495)638-45-46

e-mail: olga.trpva@rambler.ru

адрес: 119049, Москва, Ленинский пр-кт., д.4, комн. Б-08 - Б-014


Работы по развитию ЦКП осуществляются при финансовой поддержке государства в лице Минобрнауки России.

Уникальный идентификатор проекта RFMEFI59414X0007.


Доступ к проведению исследований на оборудовании ЦКП осуществляется на основе договора с одновременным заполнением заявки-заказа:

Типовой договор на оказание услуг

Заявка-заказ на проведение исследований