Низковакуумный растровый электронный микроскоп JSM-6480LV фирмы «JEOL»

Изображение установки

Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6480LV сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах.
Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов.
Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности: 

  • спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава;
  • детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).

В 2023 г. участок электронной микроскопии ЦКП был дооснащен системой  термального напыления углерода SD-800C  для пробоподготовки образцов. Максимальный ток распыления составляет 100 А.

Реквизиты центра

тел./факс: (495)638-45-46

e-mail: mvoron@bk.ru
Воронова Марина Игоревна

адрес: 119049, Москва, Ленинский пр-кт., д.4, комн. Б-08 - Б-014


Работы по развитию ЦКП осуществляются при финансовой поддержке государства в лице Минобрнауки России.

Проект 13.ЦКП.21.0033.

Соглашение 075-15-2021-696.


Доступ к проведению исследований на оборудовании ЦКП осуществляется на основе договора с одновременным заполнением заявки-заказа:

Типовой договор на оказание услуг

Заявка-заказ на проведение исследований

Договор присоединения