Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research)
Микроскоп MFP 3DStand Аlone позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наномасштабе.
Основные характеристики XY сканера:
- Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
- Размер образцов: до 8,6х3,8 см, что позволяет использовать стандартные предметные и покровные стекла;
- Уровень шума: не более 0,5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц);
- Нелинейность: не более 0,5% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи).
Основные характеристики Z сканера
- Диапазон перемещения: 15 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
- Высота образцов: до 10 мм
- Уровень шума датчиков: не более 0,25 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц);
- Нелинейность: не более 0,05% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи);
- Уровень шума сканнера: не более 60 пм (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)
Основные методики измерения MFP 3DStand Аlone:
-
Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (Tapping-AFM)
топография (рельеф) поверхности
пространственное распределение свойств материалов (фазовый контраст) в биологических объектах, гетерофазных системах, полимерах и др.
статистический анализ поверхности
-
Контактная атомно-силовая микроскопия (Contact-AFM)
топография (рельеф) поверхности
статистический анализ поверхности
пространственное распределение коэффициента трения
-
Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
пространственное распределение электрического поля и зарядов на поверхности
визуализация доменной структуры сегнетоэлектрических материалов
-
Метод зонда Кельвина (KPFM)
пространственное распределение электростатического потенциала и зарядов на поверхности
визуализация доменной структуры сегнетоэлектрических материалов
-
Силовая микроскопия пьезоотклика (PFM)
приложение к образцу постоянного напряжения до ±220 В
визуализация доменной структуры сегнетоэлектрических материалов
исследование кинетики (релаксации) локального переключения поляризации в сегнетоэлектрических материалах
векторная микроскопия пьезоотклика (VectorPFM) - одновременная визуализация доменной структуры: сигналы «Out-of-Plane» и «In-Plane»
DARTSS-PFM: визуализация доменной структуры на двух частотах вблизи резонанса
SS-PFM Спектроскопия пьезоотклика: снятие петель гистерезиса d33vsV, картирование образца
-
Магнитная силовая микроскопия (MFM)
пространственное распределение магнитных сил
визуализация магнитных доменных структур
-
Метод латеральных сил (LFM)
пространственное распределение латеральных сил
позволяет различать области с различными коэффициентами трения, а также подчеркивать особенности рельефа поверхности.
-
Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
топография (рельеф) поверхности проводящих образцов
туннельная спектроскопия
-
Зондовая станция – Probe Station
позволяет осуществлять электрический контакт с образцом во время сканирования, прикладывать внешнее напряжение смещения на образец.
-
nanoTDDB
модуль исследования временной зависимости пробоя диэлектриков в наношкале (временная шкала и шкала потенциала)
-
«ORCA» - модуль микроскопии проводимости
картирование проводимости материалов
реализация I/V спектроскопии.
-
PHEAT-PEEK
высокотемпературная модульная платформа для нагревания образца (от комнатной температуры до 300°C)
В 2022 г. выполнено дооснащение участка атомно-силовой микроскопии ЦКП новым контроллером NT-MDT PX Ultra c 5 синхронными усилителями для реализации многочастотных АСМ-методик.