Перечень оборудования ЦКП
Все оборудование центра ежегодно калибруется и поверяется органом Государственной метрологической службы и имеет свидетельства о калибровке и поверке.
Исследования в центре проводятся по разрабатываемым в ЦКП методикам выполнения исследований, которые аттестуются органом Государственной метрологической службы или университетом.
Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research)
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI VersaProbe II 5000
Установка магнетронного напыления Sunpla 40TM (Южная Корея)
Комплекс оборудования для послеростовой подготовки поверхности
Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F с приставкой энергодисперсионного микроанализатора JED-2300F фирмы «Jeol»
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 фирмы «JEOL»
Низковакуумный растровый электронный микроскоп JSM-6480LV фирмы «JEOL»
Cканирующий ионный микроскоп Strata FIB 205 System фирмы «FEI Company»
Высокотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр DSC 404 C Pegasus
Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System фирмы «Bede D1 System»
Анализатор температуропроводности NETZSCH LFA 457 MicroFlash
Электроэрозионный проволочно-вырезной станок с ЧПУ и стойкой управления
Рентгеновский дифрактометр D2 PHASER
Система прецизионной лазерной микоооброботки материалов (лазерной резки) «МикроСет РА»
Оптико-эмиссионный спектрометр Metavision 10008X-U
